디스플레이 포트
디스플레이 포트 커넥터
● 제품 사양
현재 등급: | 0.5A | ||||||||
전압 등급: | 교류 40V | ||||||||
접촉 저항: | 접점: 30mΩ Max.Shell: 50mΩ Max. | ||||||||
작동 온도: | -20℃~+85℃ | ||||||||
절연 저항: | 100MΩ | ||||||||
내전압 | 500V AC/60S | ||||||||
최대 처리 온도: | 10초 동안 260℃ | ||||||||
접촉 재료: | 구리 합금 | ||||||||
하우징 재질: | 고온 열가소성.UL 94V-0 |
● 치수 도면
● 범위
이 제품 사양은 피치 1.0mm 디스플레이 포트 커넥터 시리즈 제품에 대한 기계적, 전기적 및 환경적 성능 요구 사항과 테스트 방법을 다룹니다.
● 설계, 구성 및 재료:
커넥터는 해당 판매 도면에 지정된 설계, 구조, 물리적 치수 및 재료여야 합니다.
● 성능 및 테스트 설명:
3.1 성능 요구 사항: 커넥터는 5항에 명시된 전기적, 기계적 및 환경적 성능 요구 사항을 충족하도록 설계되어야 합니다.
3.2 정격 전압: 40V AC
3.3 정격 전류: 0.5A
3.4 작동 온도 범위: -20℃ ~ +85℃
● 시험 요건 및 절차
테스트 항목 | 테스트 조건 | 요구 사항 |
모습 | 육안 검사 | 제품 도면의 요구 사항을 충족합니다.물리적 손상이 없습니다. |
전기 성능 | ||
낮은 수준의 접촉 저항 | 결합 커넥터, 접점: 건조 회로로 측정, 최대 20mV, 10mA.(EIA-364-23) 쉘: 개방 회로로 측정, 최대 5V, 100mA. | 접점: 최대 30mΩ; 셸: 최대 50mΩ |
유전체 내전압 | 결합되지 않은 커넥터는 인접한 단자 또는 접지 사이에 1분 동안 500V AC(RMS.)를 적용합니다.연결 커넥터는 인접 단자 또는 접지 사이에 300V AC(RMS.)를 1분간 인가합니다.(EIA-364-20) | 고장 없음 |
절연 저항 | 결합되지 않은 커넥터는 인접한 단자 또는 접지 사이에 500V DC를 적용합니다.결합 커넥터, 인접한 단자 또는 접지 사이에 150V DC를 적용합니다.(EIA-364-21) | 최소 100MΩ(미결합), 최소 10MΩ(결합) |
현재 정격에 문의하십시오. | 55℃ 이하상온 85℃ Max.온도 변화.(EIA-364-70, TP-70) | 최소 0.5A |
적용 전압 정격 | 실드와 관련된 모든 신호 핀에서 최대 40V AC(RMS.) 연속 최대. | 고장 없음 |
정전기 방전 | 8mm 볼 프로브를 사용하여 1kVolt 단계에서 1kVolt에서 8kVolts까지 결합되지 않은 커넥터를 테스트합니다.(IEC61000-4-2) | 8kVolts에서 접점에 대한 방전 증거 없음. |
감쇠 | 300KHz - 825MHz : -8db 828MHz - 2.475GHz : -21db 2.475GHz - 4.125GHz : -30db HDMI 컴플라이언스 테스트 사양 테스트 ID 5-7 | <-8db (300KHz - 825MHz) <-21db(828MHz - 2.475GHz) <-30db(2.475GHz - 4.125GHz) |
TMDS 신호 시간 도메인 임피던스 | 커넥터 영역: 유형 A:100Ω+-10% 전환 영역: 100Ω+-10% 케이블 면적:100Ω+-5% | 100Ω +/- 10% |
방전 없음 @8KV 공기 @4KV 접촉 | 방전 없음 @8KV 공기 @4KV 접촉 | 퇴원의 증거 없음 |
기계적 성능 | ||
삽입력/인출력 | 분당 25±3mm의 속도로 커넥터 삽입 및 인출(EIA-364-13) | 삽입력: 최대 44.1N;철수 힘: 9.8~39.2N; |
래치 강도 | 결합된 커넥터, 래치가 풀리거나 손상될 때까지 13mm/분의 속도로 축 방향으로 축방향 인발력을 가합니다.(EIA-364-98) | 당기는 힘: 최소 49.0N양쪽 커넥터에 손상이 없습니다. |
단자 인발력 | 분당 25±3mm의 속도로 하우징에 조립됨 | 최소 2.94N |
내구성 | 다음을 수행한 후 접촉 및 쉘 저항을 측정합니다.자동 사이클링: 시간당 100±50 사이클에서 10000 사이클(EIA-364-09) | 접촉 저항: 접점: 초기값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max. |
버브레이션 | 진폭: 1.52mm PP 또는 147m/s2{15G} 소인 시간: 50-2000-50Hz(20분).소요시간 : X, Y, Z축 각 12회(총 36회) .전기적 부하: 테스트 중에 DC 100mA 전류가 흐릅니다.(EIA-364-28 조건 III 방법 5A) | 접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max. |
환경 성능 | ||
열충격 | a) -55℃에서 30분간;b) 30분 동안 +85℃;(EIA-364-32, 조건 I) | 접촉 저항: 접점: 초기값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max. |
낮은 온도 | 물리적 손상 및 전기적 이상 없음
온도 : -25도 기간 : 250시간 | 물리적 손상이 없습니다.접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max. |
소금 분무기 | 결합된 커넥터를 48시간 동안 35+/-20C 및 5+/-1% 염분 상태에 둡니다.시험 후 샘플을 물로 헹구고 실온에서 1시간 동안 재조정한다.(EIA-364-26B) | 노출된 모재 및 접촉 부위에 유해한 부식이 허용되지 않습니다. |
습기 | (A) 커넥터를 함께 결합하고 다음과 같이 테스트를 수행합니다. 온도: +25 ~ +85℃;상대 습도: 80~95%;기간: 4주기(96시간);시험 완료 후 시편은 24시간 동안 상온에서 컨디셔닝해야 하며, 그 후에는 지정된 측정을 수행해야 합니다(EIA-364-31). | 손상 없음;접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max. |
(B) 비결합 커넥터를 함께 연결하고 다음과 같이 테스트를 수행합니다. 온도: +25 ~ +85℃;상대 습도: 80~95%;기간: 4주기(96시간);시험 완료 후 시편은 24시간 동안 상온에서 컨디셔닝해야 하며, 그 후에는 지정된 측정을 수행해야 합니다(EIA-364-31). | 손상 없음;유전체 내전압 및 절연 저항 항목에 따름 | |
열 노화 | 커넥터를 연결하고 250시간 동안 +105±20C에 노출시킵니다.노출 기간이 끝나면 시험편은 실온에서 1~2시간 동안 컨디셔닝한 후 지정된 측정을 수행해야 합니다.(EIA-364-17, 조건 4, 방법 A) | 손상 없음;접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max. |
납땜 능력 | 245±3℃로 유지된 용융 땜납에 땜납 꼬리를 하우징 바닥에서 1.2mm까지 3~5초 동안 담급니다. | 침수 영역의 95%에 보이드, 핀홀이 없어야 합니다. |
납땜 열에 대한 내성 | 납땜 방법 참조;단락 5에 명시된 조건은 두 번 반복됩니다. | 손상 없음 |
● 권장 적외선 리플로우 조건:
온도 상태 그래프
● 테스트 시퀀스
안건 | 테스트 그룹 | |||||||||
G1 | G2 | G3 | G4 | G5 | G6 | G7 | G8 | G9 | G10 | |
모습 | 1,4 | 1,5,9 | 1,5,8 | 1,3 |
| 1 | 1,4 | 1,4 | 1,4 | 1,4 |
낮은 수준의 접촉 저항 | 2,5 | 2,6,10 | 6,9 |
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| 2,5 | 2,5 |
| 2,5 |
유전체 내전압 |
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| 2 |
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절연 저항 |
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| 3 |
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현재 정격에 문의하십시오. |
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| 2 |
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적용 전압 정격 |
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| 4 |
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정전기 방전 |
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| 4 |
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TMDS 신호 시간 도메인 임피던스 |
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| 2 |
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감쇠 |
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| 3 |
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삽입력/인출력(래치 없음) |
| 3,7,11 |
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래치 강도 |
| (6) |
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단자 인발력 |
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| 1 |
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내구성 |
| 4,8 |
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버브레이션 | 3 |
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열충격 |
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| 4 |
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낮은 온도 |
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| 3 |
습기 |
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| 7 |
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열 노화 |
|
|
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|
| 3 |
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소금 분무기 |
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|
|
| 3 |
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납땜 능력 |
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|
| 2 |
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납땜 열에 대한 내성 |
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|
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| 3 |
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샘플 수(SETS) | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 |
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참고: 숫자는 테스트가 수행되는 순서를 나타냅니다.