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디스플레이 포트

간단한 설명:

DP 커넥터, 디스플레이 포트


제품 상세 정보

제품 태그

디스플레이 포트 커넥터

● 제품 사양

현재 등급: 0.5A
전압 등급: 교류 40V
접촉 저항: 접점: 30mΩ Max.Shell: 50mΩ Max.
작동 온도: -20℃~+85℃
절연 저항: 100MΩ
내전압 500V AC/60S
최대 처리 온도: 10초 동안 260℃
접촉 재료: 구리 합금
하우징 재질: 고온 열가소성.UL 94V-0

● 치수 도면

微信截图_20230718155818

● 범위

이 제품 사양은 피치 1.0mm 디스플레이 포트 커넥터 시리즈 제품에 대한 기계적, 전기적 및 환경적 성능 요구 사항과 테스트 방법을 다룹니다.

● 설계, 구성 및 재료:

커넥터는 해당 판매 도면에 지정된 설계, 구조, 물리적 치수 및 재료여야 합니다.

● 성능 및 테스트 설명:

3.1 성능 요구 사항: 커넥터는 5항에 명시된 전기적, 기계적 및 환경적 성능 요구 사항을 충족하도록 설계되어야 합니다.

3.2 정격 전압: 40V AC

3.3 정격 전류: 0.5A

3.4 작동 온도 범위: -20℃ ~ +85℃

● 시험 요건 및 절차

 

테스트 항목

테스트 조건

요구 사항

모습 육안 검사 제품 도면의 요구 사항을 충족합니다.물리적 손상이 없습니다.

전기 성능

낮은 수준의 접촉 저항 결합 커넥터, 접점: 건조 회로로 측정, 최대 20mV, 10mA.(EIA-364-23) 쉘: 개방 회로로 측정, 최대 5V, 100mA. 접점: 최대 30mΩ;

셸: 최대 50mΩ

유전체 내전압 결합되지 않은 커넥터는 인접한 단자 또는 접지 사이에 1분 동안 500V AC(RMS.)를 적용합니다.연결 커넥터는 인접 단자 또는 접지 사이에 300V AC(RMS.)를 1분간 인가합니다.(EIA-364-20) 고장 없음
절연 저항 결합되지 않은 커넥터는 인접한 단자 또는 접지 사이에 500V DC를 적용합니다.결합 커넥터, 인접한 단자 또는 접지 사이에 150V DC를 적용합니다.(EIA-364-21) 최소 100MΩ(미결합),

최소 10MΩ(결합)

현재 정격에 문의하십시오. 55℃ 이하상온 85℃ Max.온도 변화.(EIA-364-70, TP-70) 최소 0.5A
적용 전압 정격 실드와 관련된 모든 신호 핀에서 최대 40V AC(RMS.) 연속 최대. 고장 없음
정전기 방전 8mm 볼 프로브를 사용하여 1kVolt 단계에서 1kVolt에서 8kVolts까지 결합되지 않은 커넥터를 테스트합니다.(IEC61000-4-2) 8kVolts에서 접점에 대한 방전 증거 없음.
감쇠 300KHz - 825MHz : -8db

828MHz - 2.475GHz : -21db

2.475GHz - 4.125GHz : -30db

HDMI 컴플라이언스 테스트 사양 테스트 ID 5-7

<-8db (300KHz - 825MHz)

<-21db(828MHz - 2.475GHz)

<-30db(2.475GHz - 4.125GHz)

TMDS 신호 시간 도메인 임피던스 커넥터 영역:

유형 A:100Ω+-10%

전환 영역: 100Ω+-10%

케이블 면적:100Ω+-5%

100Ω +/- 10%
방전 없음 @8KV 공기 @4KV 접촉 방전 없음 @8KV 공기 @4KV 접촉 퇴원의 증거 없음

기계적 성능

삽입력/인출력 분당 25±3mm의 속도로 커넥터 삽입 및 인출(EIA-364-13) 삽입력: 최대 44.1N;철수 힘: 9.8~39.2N;
래치 강도 결합된 커넥터, 래치가 풀리거나 손상될 때까지 13mm/분의 속도로 축 방향으로 축방향 인발력을 가합니다.(EIA-364-98) 당기는 힘: 최소 49.0N양쪽 커넥터에 손상이 없습니다.
단자 인발력 분당 25±3mm의 속도로 하우징에 조립됨 최소 2.94N
내구성 다음을 수행한 후 접촉 및 쉘 저항을 측정합니다.자동 사이클링: 시간당 100±50 사이클에서 10000 사이클(EIA-364-09) 접촉 저항:

접점: 초기값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max.

버브레이션 진폭: 1.52mm PP 또는 147m/s2{15G} 소인 시간: 50-2000-50Hz(20분).소요시간 : X, Y, Z축 각 12회(총 36회) .전기적 부하: 테스트 중에 DC 100mA 전류가 흐릅니다.(EIA-364-28 조건 III 방법 5A) 접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max.

환경 성능

열충격 a) -55℃에서 30분간;b) 30분 동안 +85℃;(EIA-364-32, 조건 I) 접촉 저항:

접점: 초기값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max.

낮은 온도 물리적 손상 및 전기적 이상 없음

 

온도 : -25도

기간 : 250시간

물리적 손상이 없습니다.접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max.
소금 분무기 결합된 커넥터를 48시간 동안 35+/-20C 및 5+/-1% 염분 상태에 둡니다.시험 후 샘플을 물로 헹구고 실온에서 1시간 동안 재조정한다.(EIA-364-26B) 노출된 모재 및 접촉 부위에 유해한 부식이 허용되지 않습니다.
습기 (A) 커넥터를 함께 결합하고 다음과 같이 테스트를 수행합니다. 온도: +25 ~ +85℃;상대 습도: 80~95%;기간: 4주기(96시간);시험 완료 후 시편은 24시간 동안 상온에서 컨디셔닝해야 하며, 그 후에는 지정된 측정을 수행해야 합니다(EIA-364-31). 손상 없음;접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max.
(B) 비결합 커넥터를 함께 연결하고 다음과 같이 테스트를 수행합니다. 온도: +25 ~ +85℃;상대 습도: 80~95%;기간: 4주기(96시간);시험 완료 후 시편은 24시간 동안 상온에서 컨디셔닝해야 하며, 그 후에는 지정된 측정을 수행해야 합니다(EIA-364-31). 손상 없음;유전체 내전압 및 절연 저항 항목에 따름
열 노화 커넥터를 연결하고 250시간 동안 +105±20C에 노출시킵니다.노출 기간이 끝나면 시험편은 실온에서 1~2시간 동안 컨디셔닝한 후 지정된 측정을 수행해야 합니다.(EIA-364-17, 조건 4, 방법 A) 손상 없음;접촉 저항: 접촉: 초기 값에서 변경 = 최대 30mΩ;Shell: 초기값에서 변경 = 50mΩ Max.
납땜 능력 245±3℃로 유지된 용융 땜납에 땜납 꼬리를 하우징 바닥에서 1.2mm까지 3~5초 동안 담급니다. 침수 영역의 95%에 보이드, 핀홀이 없어야 합니다.
납땜 열에 대한 내성 납땜 방법 참조;단락 5에 명시된 조건은 두 번 반복됩니다. 손상 없음

● 권장 적외선 리플로우 조건:

 온도 상태 그래프

微信截图_20230718160719

● 테스트 시퀀스

 

안건

테스트 그룹

G1

G2

G3

G4

G5

G6

G7

G8

G9

G10

모습

1,4

1,5,9

1,5,8

1,3

1

1,4

1,4

1,4

1,4

낮은 수준의 접촉 저항

2,5

2,6,10

6,9

2,5

2,5

2,5

유전체 내전압

2

절연 저항

3

현재 정격에 문의하십시오.

2

적용 전압 정격

4

정전기 방전

4

TMDS 신호 시간 도메인 임피던스

2

감쇠

3

삽입력/인출력(래치 없음)

3,7,11

래치 강도

(6)

단자 인발력

1

내구성

4,8

버브레이션

3

열충격

4

낮은 온도

3

습기

7

열 노화

3

소금 분무기

3

납땜 능력

2

납땜 열에 대한 내성

3

샘플 수(SETS)

2

2

2

2

2

2

2

2

2

참고: 숫자는 테스트가 수행되는 순서를 나타냅니다.


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